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SN74BCT8374ANTG4

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零件编号 :: SN74BCT8374ANTG4

制造商: Texas Instruments

描述: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

可用性: 511451 件

发货自: 香港仓库

预计发货日期: Oct 25 - Oct 29 2025

类型	描述
系列:	74BCT
包裹:	Tube
零件状态:	Obsolete
逻辑类型:	Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
电源电压:	4.5V ~ 5.5V
位数:	8
工作温度:	0°C ~ 70°C
安装类型:	Through Hole
包/箱:	24-DIP (0.300", 7.62mm)
供应商设备包:	24-PDIP

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